Taille, part, croissance et analyse de l’industrie du système d’inspection des défauts de plaquettes de semi-conducteurs, par types (système d’inspection des défauts de plaquettes à motifs, système d’inspection des défauts de plaquettes sans motif, système d’inspection et de classification des défauts de plaquettes par faisceau électronique, détection et classification des défauts de macro-plaquettes, système d’inspection des plaquettes pour emballage avancé), par applications couvertes (IDM, fonderies), perspectives régionales et prévisions jusqu’en 2035