Sistema de inspección de defectos de la oblea de semiconductores Tamaño del mercado, participación, crecimiento y análisis de la industria, mediante tipos (sistema de inspección de defectos de oblea, sistema de inspección de defectos de obleas no patrocinados, sistema de inspección de obleas de haz E, sistema de inspección y clasificación de la oblea de obleas, detección y clasificación de la región de la región y para 203333333 años de inspección avanzada), por aplicaciones cubiertas (IDM, encontradas), INSECECCIONES REGIONALES ACTIVES Y FORECESTOS Y FOR TACISTOS ACTUALES Y POR 203