Sistema de inspeção de inspeção de defeitos semicondutores Tamanho do mercado, participação, crescimento e análise da indústria, por tipos (sistema de inspeção de defeitos de wafer padronizado, sistema de inspeção de defeitos de wafer não patnociado, inspeção de defeitos de feixe eletrônico e sistema de classificação de wafer, de detecção de gestas, de detecção de gestas, o sistema de inspeção de gaipes para a aplicações e as aplicações com retenção e a aplicações de retenção com retenção de iminentes, com aplicativos com retenção de que os aplicações são cobertas (Sistema de inspeção de gestas), por aplicações com retenção (IDM de identificação por remancos), por aplicativos com retenção (Sistema de inspeção de jateados), por aplicações com retenção (IDM de identificação por remancos, com aplicativos com retenção (IDM de identificação por reto.